Nilanjan Mukherjee

Nilanjan Mukherjee

Senior Engineering Director, Siemens Digital Industries Software
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被引用次数：6028
Design-for-Test Memory Testing ATPG Fault simulation Compression
Sandeep Kumar Goel

Sandeep Kumar Goel

Academician/Director, TSMC
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ATPG DfT 2D/3D/SOC test Automotive Functional Safety
Huaxing Tang

Huaxing Tang

Siemens
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diagnosis yield learning silicon debug DFT ATPG
Jennifer Dworak

Jennifer Dworak

Southern Methodist University
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ATPG Test Power Integrated Circuits
Emil Gizdarski

Emil Gizdarski

Synopsys, Principal Eng
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Atpg diagnosis test compression
Narendra Devta-Prasanna

Narendra Devta-Prasanna

Google
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被引用次数：550
DFT ATPG test power test quality in-system test
Elham K Moghaddam

Elham K Moghaddam

Software Developer. Mentor Graphics Corp.
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Design for Tests VLSI Testing. Low Power Testing ATPG Faultsimulation
Xiaoxin Fan

Xiaoxin Fan

Department of Electrical and Computer Engineering, University of Iowa
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Circuit Diagnosis ATPG DFX Memory Testing
Subhadip Kundu

Subhadip Kundu

Qualcomm
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Diagnosis ATPG EDA
Soham Roy সোহম রায়

Soham Roy সোহম রায়

Engineer, Intel Corporation
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VLSI Design and Test ATPG Machine Intelligence
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