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个人学术档案

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Deepak Goyal

Intel Corporation

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被引用次数：793

Microelectronic packaging Reliability Failure analysis Fault isolation Failure mechanisms

Abdullah Al Noman

Failure Analysis R&D Engineer at Intel Corporation

在 intel.com 的电子邮件经过验证

被引用次数：622

Failure analysis Fault Isolation Nano-probing Fabrication Photonic Devices

Xiaochun Yu

CAD engineer, Intel Corporation

在 intel.com 的电子邮件经过验证

被引用次数：321

IC diagnosis IC testing fault isolation silicon debug yield

Sayan Saha

Intel Corporation

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被引用次数：292

SoC Design Standard Cell Benchmarking Failure Analysis Fault Isolation Competitive Analysis

Abhiram Balasubramanian

Masters in Computer Science, University of Utah

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被引用次数：176

Operating systems Fault Isolation Virtualization Storage

Ryan Ross

Intel Corporation

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被引用次数：77

failure analysis fault isolation yield enhancement

anoop kalarikkal

AMD

在 amd.com 的电子邮件经过验证

被引用次数：3

Failure Analysis Fault isolation Test