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Hongsheng Qin
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Metallic Mesh Defect Detection Based on Low-Rank Decomposition via Schatten Capped p Norm
H Qin, M Sun, Z Lu, J Tan
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2024
2024
Long working distance portable smartphone microscopy for metallic mesh defect detection
Z Lu, H Qin, J Li, M Sun, J Tan
arXiv preprint arXiv:2408.05518, 2024
2024
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文章 1–2