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Diagnosis of shielded cable faults via regression-based reflectometry
GY Kwon, CK Lee, YJ Shin
IEEE Transactions on Industrial Electronics 66 (3), 2122-2131, 2018
强制性开放获取政策： US National Science Foundation
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Assessment of cable aging for nuclear power plants I&C cable via time-frequency domain reflectometry
GY Kwon, YH Lee, SS Bang, GH Ji, GS Lee, ZÁ Tamus, YJ Shin
2020 IEEE 3rd International Conference on Dielectrics (ICD), 77-80, 2020
强制性开放获取政策： National Office for Research, Development and Innovation, Hungary
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