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Putting wasted clock cycles to use: Enhancing fortuitous cell-aware fault detection with scan shift capture
F Zhang, D Hwong, Y Sun, A Garcia, S Alhelaly, G Shofner, ...
2016 IEEE International Test Conference (ITC), 1-10, 2016
强制性开放获取政策： US National Science Foundation
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Detecting a trojan die in 3D stacked integrated circuits
S Alhelaly, J Dworak, T Manikas, P Gui, K Nepal, AL Crouch
2017 IEEE North Atlantic Test Workshop (NATW), 1-6, 2017
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