摘要 针对已有米勒矩阵测量方法的不足, 提出了一种基于单光弹调制器的米勒矩阵测量技术, 给出了米勒矩阵测量优化算法及系统参数两步校准法. 该技术通过两步校准法对系统参数进行校准测量, 利用优化算法计算得到待测样品的米勒矩阵. 实验结果表明, 待测 1/4 波片相位延迟量测量值为 90.4185, 误差在标称偏差 λ/300 以内, 快轴方位角测量值为 0.2348, 误差在最大旋转误差 0.4 以内. 同快轴方位角为 0 的 1/4 波片标准米勒矩阵相比, 待测 1/4 波片米勒矩阵各元素最大相对误差的直接测量值和间接测量值分别为 1.97% 和 0.83%, 均小于最大相对误差的模拟仿真值 2.11%. 通过提高旋转台的读数精度和减小相位延迟量的标称偏差, 可以进一步减小米勒矩阵各元素的最大相对误差.