一种双端测距算法的伪根问题与改进

辛振涛， 尚德基， 尹项根 - 继电器, 2005 - cqvip.com
双端故障测距由于不受过渡电阻和系统阻抗等因素的影响, 得到了广泛的关注.
但在利用长线方程沿线推导故障点电压幅值的测距算法中, 原理上存在伪根的可能性 …
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一种双端测距算法的伪根问题与改进

辛振涛， 尚德基， 尹项根 - 电力系统保护与控制 - epspc.net
双端故障测距由于不受过渡电阻和系统阻抗等因素的影响, 得到了广泛的关注.
但在利用长线方程沿线推导故障点电压幅值的测距算法中, 原理上存在伪根的可能性 …

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辛振涛， 尚德基， 尹项根 - 电力系统保护与控制 - dlkz.net
双端故障测距由于不受过渡电阻和系统阻抗等因素的影响, 得到了广泛的关注.
但在利用长线方程沿线推导故障点电压幅值的测距算法中, 原理上存在伪根的可能性 …

[引用][C] 一种双端测距算法的伪根问题与改进

辛振涛， 尚德基， 尹项根 - 电力系统保护与控制