J Shimizu, T Ohashi, K Matsuura, I Muneta… - 2017 IEEE Electron …, 2017 - cir.nii.ac.jp
Low-carrier density sputtered-MoS<inf>2</inf> film by H<inf>2</inf>S annealing for normally-off
accumulation-mode FET | CiNii Research CiNii 国立情報学研究所 学術情報ナビゲータ[サイニィ …