基于离散元的玉米种子颗粒模型种间接触参数标定.

王云霞， 梁志杰， 张东兴， 崔涛， 史嵩… - Transactions of the …, 2016 - search.ebscohost.com
由于EDEM (离散元法) 中建立的玉米种子颗粒模型与实际玉米种子在外形,
表面粗糙度等方面存在差异, 若直接将实际测量的物性参数引入EDEM 中进行仿真 …
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基于离散元的玉米种子颗粒模型种间接触参数标定

王云霞， 梁志杰， 张东兴， 崔涛， 史嵩， 李克鸿， 杨丽 - 农业工程学报, 2016 - cqvip.com
由于EDEM (离散元法) 中建立的玉米种子颗粒模型与实际玉米种子在外形,
表面粗糙度等方面存在差异, 若直接将实际测量的物性参数引入EDEM 中进行仿真 …