Рассмотрены принципы проектирования многосекционных экранированных накладных
измерительных конденсаторов, используемых для неразрушающего контроля
ортотропных материалов. Дан анализ характеристик: глубины зоны контроля, рабочей
емкости, чувствительности к анизотропии диэлектрических свойств. Описаны
качественные принципы проектирования, даны рекомендации для оптимизации
конструкций.