Similarity matching of wafer bin maps for manufacturing intelligence to empower industry 3.5 for semiconductor manufacturing

CY Hsu, WJ Chen, JC Chien - Computers & Industrial Engineering, 2020 - Elsevier
Yield improvement is increasingly important as advanced fabrication technologies are
complicated and interrelated for semiconductor manufacturing. Wafer bin maps (WBM) …

ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО УНИВЕРСИТЕТА ТЕХНОЛОГИИ И ДИЗАЙНА. СЕРИЯ 3: ЭКОНОМИЧЕСКИЕ, ГУМАНИТАРНЫЕ …

ЮС ПИНЬКОВЕЦКАЯ - ВЕСТНИК САНКТ-ПЕТЕРБУРГСКОГО … - elibrary.ru
Исследование было основано на разработке регрессионных моделей,
характеризующих деятельность сельскохозяйственных предприятий в регионах …