Два режима экранирования электрического поля в высокоомных полупроводниках с глубокими центрами

ВН Астратов, АВ Ильинский, АС Фурман - Физика твердого тела, 1989 - mathnet.ru
Теоретически и экспериментально исследованы два новых режима в динамике
экранирования электрического поля в высокоомных компенсированных …

[引用][C] Динамика экранирования электрического поля в фоторефрактивных кристаллах BiSiO

ВН Астратов, АВ Ильинский, АС Фурман - Письма в Журнал …, 1988 - mathnet.ru
Рис. 1, Распределения напряженности электрического поля£ измеренные в различные
моменты времени t после приложения внеш него напряжения: а-О, 6-5, в-10, г-15, д-180 …

Возникновение знакопеременного объемного заряда в кристалле в процессе экранирования внешнего поля

ВН Астратов, АВ Ильинский, ВА Киселев… - Физика твердого …, 1984 - mathnet.ru
Впервые в пространственно-однородных условиях опыта наблюдалось образование
знакопеременного объемного заряда при экранировании электрического поля в …

Индуцированное светом перераспределение полей в силленитах (BiSiO, BiGeO)

ОА Гудаев, ВА Гусев, ЭЭ Пауль - Физика твердого тела, 1986 - mathnet.ru
В работе исследован ранее обнаруженный нами эффект «переключения» в структуре
электрод–кристалл–электрод. На кривой зависимости фототока от интенсивности …

[引用][C] Роль инжекции электронов в формировании оптических изображений в кристаллах BiSiO

ЛИ Коровин, ВИ Марахонов, АВ Хоменко - Письма в Журнал …, 1983 - mathnet.ru
Это соотношение позволяет, в частности, по эксперименталь ным данным определить
величину характерной концентрации/г... Таким образом, наличие инжекционных токов …

Релаксация фототока и электрического поля в МДП структуре на основе силиката висмута

АВ Ильинский, АБ Куценко, МБ Мельников - Физика твердого тела, 1988 - mathnet.ru
Дан теоретический анализ релаксации фототока и поля в МДП структуре на основе
высокоомного полупроводника в условиях однородной фотогенерации и рекомбинации …

О центрах примесной фотопроводимости и скрытого изображения в кристаллах BiSiO и его аналогах

МВ Красинькова, БЯ Мойжес - Физика твердого тела, 1989 - mathnet.ru
Предполагается, что кристаллы Bi $ _ {12} $ SiO $ _ {20} $ и его аналоги, выращенные
(отожженные) на воздухе, имеют стехиометрический избыток кислорода, приводящий …

Влияние поглощения света на распределение электрических полей в BiSiO

ВВ Брыксин, ЛИ Коровин, ВИ Марахонов - Журнал технической …, 1983 - mathnet.ru
Рассматриваются процессы перераспределения электрического заряда и поля под
действием записывающего света и приложенного внешнего потенциала в …

Динамика экранирования электрического поля в полупроводнике с глубоким примесным уровнем

АС Фурман - Физика и техника полупроводников, 1988 - mathnet.ru
Предложена теория, описывающая динамику экранирования электрического поля в
примесном полупроводнике после скачкообразного включения сильного обедняющего …

[PDF][PDF] Кинетика экранирования электрического поля в области объемного заряда с каналом утечки и низкотемпературная проводимость поверхностных …

НИ Бочкарева, АВ Клочков - Физика и техника полупроводников, 1998 - journals.ioffe.ru
На основе экспериментального изучения проводимости поверхностных каналов в n-Si
рассматривается кинетика экранирования электрического поля в области объемного …