[PDF][PDF] Диагностика наноустройств методами сканирующей зондовой микроскопии

АВ Анкудинов - Иоффе, СПБ, 2015 - researchgate.net
Многие исследователи, использующие сканирующую зондовую микроскопию (СЗМ),
знакомы c историей открытия сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), предтечи …

[PDF][PDF] Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: учеб. пособие

ДА Усанов, РК Яфаров - Саратов: Изд-во Саратовского …, 2007 - solid.sgu.ru
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ)-один из наиболее современных методов
исследования микротопографии и локальных свойств поверхности твердого тела с …

Наноразмерная модификация поверхности полупроводников и металлов зондом атомно-силового микроскопа

ДВ Щеглов - 2004 - static.freereferats.ru
Актуальность темы исследования. Значительный прогресс в структурной диагностике
низкоразмерных систем достигнут благодаря развитию и широкому применению …

[PDF][PDF] Сканирующая туннельная микроскопия. Аппаратура, принцип работы, применение

СД Карпухин, ЮА Быков, МА Щёкотов - М.: МГТУ им. НЭ Баумана, 1999 - lab.bmstu.ru
Первый сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) был создан сравнительно
недавно, в 1982 году. Тем не менее, в настоящее время он нашёл применение во …

Основы сканирующей зондовой микроскопии

ВМ Корнилов, АФ Галиев - 2011 - elibrary.ru
Цикл лабораторных работ «Основы сканирующей зондовой микроскопии» включает 6
работ, с применением современных методов исследования поверхности: туннельной и …

Вакуумная туннельная микроскопия и спектроскопия

ВМ Свистунов, МА Белоголовский… - Успехи физических наук, 1988 - ufn.ru
Одним из наиболее значительных достижений в физике 80 х годов яви лось создание
нового мощного метода топографии и анализа поверхности твердого тела …

Сканирующая зондовая микроскопия твердотельных наноструктур

ВЛ Миронов - 2009 - static.freereferats.ru
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) один из мощных современных методов
исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким …

Сканирующая туннельная микроскопия и атомарно-силовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур: учебное пособие

СА Рыков - 2022 - elib.spbstu.ru
Аннотация В учебном пособии на примерах сканирующего туннельного микроскопа
(СТМ) и атомарно-силового микроскопа (АСМ) рассмотрены основные принципы …

[PDF][PDF] Приборы и методы зондовой микроскопии

ЕГ Дедкова, АА Чуприк, ИИ Бобринецкий… - Москва …, 2011 - nanotube.ru
Физика поверхностных явлений в настоящее время является одним из наиболее
интенсивно развивающихся разделов науки. Именно на фундаментальных …

Электронная зондовая микроскопия-инструмент нанодиагностики

ВВ Лепов, БА Логинов - Наука и техника в Якутии, 2010 - cyberleninka.ru
Слова лауреата Нобелевской премии по физике за 2000 г. вице-президента РАН,
руководителя отделения нанотехнологий и информационных технологий РАН …