Всесторонний скейлинг для описания критического флюида во внешнем поле. 1. Систематический метод термодинамических потенциалов
ЕГ Рудников, АД Алехин - Мониторинг. Наука и технологии, 2013 - elibrary.ru
В работе представлен новый формализм систематического метода
термодинамических потенциалов. Предложенный формализм является основой …
термодинамических потенциалов. Предложенный формализм является основой …
Метод определения критических параметров вещества по данным критической опалесценсии и кривой сосущестования
АД Алехин, ОИ Билоус, АВ Войтешенко - Мониторинг. Наука и …, 2014 - elibrary.ru
В работе предложен новый способ определения величины критических параметров
различных диэлектрических веществ: температуры Т с, плотности ρ с, концентрации с …
различных диэлектрических веществ: температуры Т с, плотности ρ с, концентрации с …
[PDF][PDF] Визначення критичних температур речовини за даними критичної опелесценції
ОД Альохін, ОІ Білоус, АМ Репула - … університету імені Тараса …, 2014 - irbis-nbuv.gov.ua
В роботі запропоновано новий метод визначення величин критичної температури
речовини за даними температурної залежності інтенсивності розсіяного світла вздовж …
речовини за даними температурної залежності інтенсивності розсіяного світла вздовж …
[引用][C] РЕГУЛЯРНАЯ И ФЛУКТУАЦИОННАЯ СОСТАВЛЯЮЩИЕ КРИТИЧЕСКИХ ПОКАЗАТЕЛЕЙ КРИТИЧЕСКОГО ФЛЮИДА
АД Алехин, ОИ Билоус - Сверхкритические флюиды (СКФ) …, 2015 - elibrary.ru