DE Ivanov - Радіоелектронні і комп'ютерні системи, 2009 - irbis-nbuv.gov.ua
In this paper we propose a fault simulation algorithm that utilizes all cores in multi-core processors. We adapt for multi-core workstation our early proposed distributed fault …
In the life cycle of development of digital circuits developer need to solve the several problems of building of input sequences: test, initializing and verifying of equivalence. In this …
ГЕНЕТИЧЕСКИЕ АЛГОРИТМЫ В ГЕНЕРАЦИИ ПРОВЕРЯЮЩИХ ТЕСТОВ ЦИФРОВЫХ СХЕМ Page 1 Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits Skobtsov …
ДЕ Иванов, ЮА Скобцов… - Радіоелектронні і комп' …, 2006 - irbis-nbuv.gov.ua
Генетические алгоритмы (ГА) успешно используются при генерации проверяющих тестов цифровых схем [1](с 90-х годов) наряду с детерминированными структурными …
ДЕ Иванов - Вісник Хмельницького національного …, 2012 - journals.khnu.km.ua
В статье рассматривается задача достижения заданного состояния в синхронных последовательностных цифровых устройствах. Предлагается два метода решения …