The features of the current–voltage (I–V) measurements in local regions of semiconductor nanostructures by conductive atomic force microscopy (AFM) are discussed. The standard …
Рассмотрены основные особенности измерений вольт-амперных характеристик (ВАХ) методами проводящей атомно-силовой микроскопии (АСМ) в локальных областях …
В современном мире предъявляются новые требования к материалам и структурам. Появились новые пористые материалы с иерархическим строением, фрактальными и …
АВ Ильинский, ВА Мошников… - Журнал технической …, 2015 - researchgate.net
Рельеф, сформированный на поверхности VO2-нанокомпозита облучением потоком электронов средних энергий (5− 8 keV), изучен оптическим, оптико-дифракционным и …
ЕН Муратова, ВА Мошников, КВ Чернякова… - Известия высших …, 2020 - met.misis.ru
Аннотация Одной из актуальных задач в сфере стационарного отопления, на решение которой направлены усилия многочисленных разработчиков, является экономия …
ВА Мошников, ЮМ Спивак, ПА Алексеев… - 2014 - elibrary.ru
Рассматриваются различные методы атомно-силовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике. Предназначено для студентов, обучающихся по …