Field emission from carbon nanostructures: Models and experiment

ED Eidelman, AV Arkhipov - Physics-Uspekhi, 2020 - iopscience.iop.org
Field emission from carbon nanostructures: models and experiment - IOPscience This site
uses cookies. By continuing to use this site you agree to our use of cookies. To find out more …

Characterization of thin carbon films capable of low-field electron emission

A Andronov, E Budylina, P Shkitun… - Journal of Vacuum …, 2018 - pubs.aip.org
Previous experiments have demonstrated that carbon nanoisland films (or disordered
quantum-dot arrays) deposited on silicon wafers may possess the property of low-field …

Low-field electron emission capability of thin films on flat silicon substrates: Experiments with Mo and general model for refractory metals and carbon

I Bizyaev, P Gabdullin, M Chumak, V Babyuk… - Nanomaterials, 2021 - mdpi.com
Herein, we describe a study of the phenomenon of field-induced electron emission from thin
films deposited on flat Si substrates. Films of Mo with an effective thickness of 6–10 nm …

[PDF][PDF] Низковольтная автоэлектронная эмиссия из наноструктурированных углеродосодержащих материалов и покрытий

АВ Архипов - Дисс.... докт. физ.-мат. наук (СПб.: Санкт …, 2017 - researchgate.net
Несмотря на то, термоэмиссионные катоды сохраняют доминирующие позиции в
вакуумной электронике, холодные полевые эмиттеры имеют перед ними ряд …

General Experimental Method of Research of Anisotropy of Conductive Materials

GK Baryshev, AA Barzov, AP Biryukov… - Key Engineering …, 2019 - Trans Tech Publ
The paper devotes a new general experimental method for studying the anisotropy of
conducting materials of various functional purposes. The difference between the presented …

STS study of nanocarbon films on oxidized silicon

AM Zhurkin, PG Gabdullin - Journal of Physics: Conference …, 2019 - iopscience.iop.org
Carbon cluster coatings deposited on oxidized silicon are known to possess the capability of
low-macroscopic-field electron emission. Also, such films show anomalous photosensitivity …

[引用][C] Полевая эмиссия из углеродных наноструктур: модели и эксперимент

ЕД Эйдельман, АВ Архипов - Успехи физических наук, 2020 - ufn.ru
Здесь ne ì энергетическая плотность заполненных электронных состояний, задаваемая
функцией Ферми, D e, E ì коэффициент прозрачности поверхностного барьера для …