[PDF][PDF] Генетические алгоритмы построения входных идентифицирующих последовательностей цифровых устройств

ДЕ Иванов - Донецк: ТОВ «Цифровая типографiя, 2012 - researchgate.net
Цифровая техника нашла широкое применение как в производстве, так и в быту. В
обеих сферах применения потребитель вправе требовать высокой надёжности …

[PDF][PDF] Генетические алгоритмы построения идентифицирующих последовательностей для цифровых схем с памятью

ДЕ Иванов - 2008 - iamm.su
In the life cycle of development of digital circuits developer need to solve the several
problems of building of input sequences: test, initializing and verifying of equivalence. In this …

[PDF][PDF] Взаимодействие компонент в распределённых генетических алгоритмах генерации тестов

ДЕ Иванов - 2009 - iamm.su
In this paper the problem of construction of the distributed genetic algorithms that based on
the «islands» model is discussed. In this model one calculation system is nominated as …

[PDF][PDF] Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits

D Ivanov, Y Skobtsov - 2006 - iamm.su
ГЕНЕТИЧЕСКИЕ АЛГОРИТМЫ В ГЕНЕРАЦИИ ПРОВЕРЯЮЩИХ ТЕСТОВ ЦИФРОВЫХ
СХЕМ Page 1 Distributed Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits Skobtsov …

[PDF][PDF] Распределенные алгоритмы моделирования и генерации тестов

ДЕ Иванов, ЮА Скобцов… - Радіоелектронні і комп' …, 2006 - irbis-nbuv.gov.ua
Генетические алгоритмы (ГА) успешно используются при генерации проверяющих
тестов цифровых схем [1](с 90-х годов) наряду с детерминированными структурными …

[DOC][DOC] Parallel Genetic Algorithm of Test Generation for Digital Circuits

YA Skobtsov, AI El-Khatib… - Proceedings of the …, 2006 - researchgate.net
ГЕНЕТИЧЕСКИЕ АЛГОРИТМЫ В ГЕНЕРАЦИИ ПРОВЕРЯЮЩИХ ТЕСТОВ ЦИФРОВЫХ
СХЕМ Parallel Genetic Algorithm of Test Generation For Digital Circuits Skobtsov YA, El-Khatib …

[PDF][PDF] Алгоритм симуляции отжига оптимизации рассеивания тепла диагностических тестов

ДЕ Иванов, Р Зуауи - Радіоелектронні і комп'ютерні системи, 2010 - irbis-nbuv.gov.ua
В данной статье предлагается новый подход к решению задачи построения тестов
цифровых устройств с минимальным рассеиванием тепла, который основан на …

[引用][C] The Simulating Annealing Algorithm for the Optimization of the Power Dissipation of the Input Test Sequences

R Zouaoui, I Herzi