Формирование упорядоченных наноструктур на поверхностях кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии комбинированным термовакуумным …

СА Шелестовская, МА Бондаренко… - Методологические …, 2010 - elibrary.ru
Рассмотрена методика создания ультратонких покрытий (в том числе
алмазоподобных) на поверхностях нанометрического инструмента методом …

Исследование влияния состояния поверхности кремниевых зондов для атомно-силовой микроскопии на точность и качество получаемых топограмм

МА Бондаренко, ЮЮ Бондаренко… - Електроніка та Зв' …, 2011 - elc.kpi.ua
Анотація Результати проведених у роботі досліджень впливу стану поверхні кремнієвих
зондів Ultrasharp CSC12 для АСМ на точність і якість одержуваних топограм дозволили …

Розвиток методів та засобів атомно-силової мікроскопії для неруйнівного контролю характеристик компонентів мікросистемної техніки

МО Бондаренко - 2019 - er.chdtu.edu.ua
Дисертація присвячена вирішенню важливої науково-технічної проблеми
удосконалення існуючих та створення нових методів і засобів атомно-силової …

[引用][C] Покриття у приладобудуванні

ВС Антонюк, ГС Тимчик, ЮЮ Бондаренко… - 2016 - … технічний університет України" …