Evolutionary network model of testing of the distributed information systems

O Martynyuk, A Sugak, D Martynyuk… - 2017 9th IEEE …, 2017 - ieeexplore.ieee.org
The Automated Systems of Technical Diagnostics (ASTD) of the dynamic distributed
information systems (DIS) need the operational reconfiguration corresponding to changes of …

[PDF][PDF] Генетические алгоритмы построения входных идентифицирующих последовательностей цифровых устройств

ДЕ Иванов - Донецк: ТОВ «Цифровая типографiя, 2012 - researchgate.net
Цифровая техника нашла широкое применение как в производстве, так и в быту. В
обеих сферах применения потребитель вправе требовать высокой надёжности …

The input pattern order problem: Evolution of combinatorial and sequential circuits in hardware

M Trefzer, T Kuyucu, A Greensted, JF Miller… - … Systems: From Biology …, 2008 - Springer
Evolution is particularly good at finding specific solutions, which are only valid for exactly the
input and environment that are presented during evolution. In most evolution experiments …

[PDF][PDF] Масштабируемый параллельный генетический алгоритм построения идентифицирующих последовательностей для современных многоядерных …

ДЕ Иванов - Управляющие системы и машины, 2011 - dspace.nbuv.gov.ua
Рассмотрена задача построения параллельных генетических алгоритмов генерации
идентифицирующих последовательностей для цифровых устройств по схеме «мастер …

Evolution of circuits in hardware and the evolvability of artificial development

T Kuyucu - 2010 - etheses.whiterose.ac.uk
Automatic design of digital electronic circuits via evolutionary algorithms is a promising area
of research. When evolved intrinsically on real hardware, evolved circuits are guaranteed to …

Генетический алгоритм построения функциональных тестов арифметико-логических устройств

ЮА Скобцов, ДЕ Иванов… - Восточно-Европейский …, 2014 - cyberleninka.ru
В статье рассматривается эволюционный подход к генерации тестов для схемы
встроенного функционального самотестирования. Главная цель предлагаемого …

A hierarchically defined fault pattern generator using genetic algorithm

D Sangwan, R Kumar, M Kumar - International Journal of …, 2010 - inderscienceonline.com
Test generation using fault algorithms is a complex procedure. This paper presents a
hierarchical approach for test vector generation, which searches for a compact set of test …

Evolutionary Approach to Test Generation for Functional BIST

YA Skobtsov, DE Ivanov, VY Skobtsov, R Ubar… - arXiv preprint arXiv …, 2010 - arxiv.org
In the paper, an evolutionary approach to test generation for functional BIST is considered.
The aim of the proposed scheme is to minimize the test data volume by allowing the device's …

Measurement and Fitness Function

MA Trefzer, AM Tyrrell, MA Trefzer… - Evolvable Hardware: From …, 2015 - Springer
One of the greatest challenges in Evolvable Hardware—in particular when dealing with
intrinsic evolution—is to monitor and assess the performance of an (evolving) circuit or …

GENETIC ALGORITHM FOR CONSTRUCTING FUNCTIONAL TESTS OF ARITHMETIC LOGIC UNITS.

Y Skobtsov, D Ivanov… - Eastern-European Journal …, 2014 - search.ebscohost.com
A genetic algorithm for constructing functional-level test sequences for built-in self-test
schemes of arithmetic logic units of modern systems-on-chip is proposed in the paper. The …