[HTML][HTML] 纳米多晶钨膜中He 相关缺陷对H 滞留的影响
谢莎， 邓爱红， 王康， 王玲， 李悦， 王勇， 汪渊 - 材料研究学报, 2014 - jcscp.org
摘要用磁控溅射方法制备纳米多晶钨膜, 采用X 射线衍射(XRD), 扫描电子显微镜(SEM),
弹性反冲探测(ERD) 和慢正电子束分析(SPBA) 等手段研究了在高能He+ 和H+ …
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