Quantitative characterization by transmission electron microscopy and Its application to interfacial phenomena in crystalline materials
S Ii - Materials, 2024 - mdpi.com
This paper reviews quantitative characterization via transmission electron microscopy (TEM)
and its application to interfacial phenomena based on the results obtained through the …
and its application to interfacial phenomena based on the results obtained through the …
[HTML][HTML] Определение параметров локальной атомной структуры методом совместного анализа EXAFSи EXELFS-данных
ИК Аверкиев, ОР Бакиева… - Химическая физика и …, 2024 - cyberleninka.ru
Предложен новый подход к изучению локальной атомной структуры материалов,
основанный на решении системы интегральных уравнений, включающей данные …
основанный на решении системы интегральных уравнений, включающей данные …
ХИМИЧЕСКАЯ ФИЗИКА И МЕЗОСКОПИЯ
ИК АВЕРКИЕВ, ОР БАКИЕВА… - ХИМИЧЕСКАЯ …, 2024 - elibrary.ru
Предложен новый подход к изучению локальной атомной структуры материалов,
основанный на решении системы интегральных уравнений, включающей данные …
основанный на решении системы интегральных уравнений, включающей данные …
Integral Equations for Joint Analysis of Exafs and Exelfs Spectra
I Averkiev, O Bakieva - Available at SSRN 4863533 - papers.ssrn.com
In this work, we propose a new approach to studying the local atomic structure of materials
based on solving a system of integral equations that includes data from EXAFS (Extended X …
based on solving a system of integral equations that includes data from EXAFS (Extended X …