Étude et Simulation de la Propagation des Ondes Électromagnétiques dans les guides à Cristaux Photoniques
M Khaled, O Hamza - dspace.univ-ouargla.dz
Dans cette étude nous utilisions le programme de simulation Rfost CAD et de la
connaissance de quelque caractéristique qui a une influence sur la constitution du structure …
connaissance de quelque caractéristique qui a une influence sur la constitution du structure …
Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique (SE) des films minces amorphes de SiOxNy: H
HO MOULAI - dspace.univ-ouargla.dz
Les films minces à base de silicium SiOxNy: H, ont élaborés par la technique de dépôt
chimique en phase vapeur assisté par plasma PECVD. Ces films ont été recuits à des …
chimique en phase vapeur assisté par plasma PECVD. Ces films ont été recuits à des …