The study of backside TSV reveal process by direct Si/Cu grinding and polishing

K Xue, D Yu, Y Li, F Jiang, H Liu… - 2013 IEEE 15th …, 2013 - ieeexplore.ieee.org
Despite the fact that manufacturing processes of through silicon via (TSV) have achieved
great progresses, the backside via reveal process is still challenging and costly. The …

[PDF][PDF] EFFECT OF THE ANTIMONY THIN-FILM DEPOSITION SEQUENCE ON COPPER-SILICON INTERDIFFUSION

VZNTP ANTIMONA, NAI BAKER-SILICIJ - Materiali in tehnologije, 2012 - researchgate.net
In this work we present a study of the effect of an antimony layer on the interdiffusion and
formation of copper silicides while inverting the sequence of Cu and Sb deposition on Si …

[PDF][PDF] ĠSTANBUL ÜNĠVERSĠTESĠ

DRFA NAMAL, T ÖZDOĞAN, NTSYA DA… - nek.istanbul.edu.tr
Ülkemizde yenidoğan bebekler için yaşam sonu kararların nasıl ve kimler tarafından
verildiğine dair bilgilerin etik bakış açısıyla bir araya getirilmesine ihtiyaç olduğu …

[引用][C] Yarı iletkenlerde kusurlar ve kusur difüzyonu

E Çatak - Fen Bilimleri Enstitüsü

[引用][C] P-tipi silikonda pozitif yüklü iyon difüzyonu

H Uysal - Fen Bilimleri Enstitüsü