Расчёт показателей надёжности радиоэлектронных средств: учебно-метод. пособие
СМ Боровиков, ИН Цырельчук, ФД Троян - 2010 - libeldoc.bsuir.by
Рассмотрены основы теории надёжности изделий радиоэлектроники и методы оценки
показателей надёжности проектируемых устройств. Приводятся математические …
показателей надёжности проектируемых устройств. Приводятся математические …
[PDF][PDF] Надежность электроустановок, энергетических систем и радиоэлектронных средств
ВН Галушко, СГ Додолев, АВ Дробов - 2018 - elib.bsut.by
Изложены основные сведения по теории надежности применительно к
электроустановкам, энергетическим системам и радиоэлектронным средствам …
электроустановкам, энергетическим системам и радиоэлектронным средствам …
Радиоэлектронная аппаратура и основы её конструкторского проектирования: учебно-метод. пособие
НИ Каленкович, СМ Боровиков, АМ Ткачук… - 2009 - libeldoc.bsuir.by
Рассмотрены классификация и особенности конструкторского исполнения
современной радиоэлектронной аппаратуры. Приводится общая методология …
современной радиоэлектронной аппаратуры. Приводится общая методология …
Материалы компонентов радиоэлектронных средств. Печатные платы
ГВ Мылов, АМ Медведев, ИВ Дрожжин - 2021 - elibrary.ru
Систематизированная обширная информация об основных материалах и
компонентах, используемых при изготовлении печатных плат размерного типа …
компонентах, используемых при изготовлении печатных плат размерного типа …
Concept of incoming inspection of materials and components coming into production
AM Medvedev, GV Mylov - Dependability, 2013 - dependability.ru
The paper offers the strategy of incoming inspection of components according to a level of
deficiency of lots, with expenses for elimination of consequences of defective components …
deficiency of lots, with expenses for elimination of consequences of defective components …
Анализ отказа интегральной микросхемы (ИМС) с использованием микроскопа с фокусированным ионным пучком
ТВ Кабак - 2021 - libeldoc.bsuir.by
В современном мире повсеместно применяются электронные устройства, основой
которых являются ИМС различной степени сложности. При производстве ИМС …
которых являются ИМС различной степени сложности. При производстве ИМС …
Анализ геометрических параметров контактов кремниевой подложки и алюминиевой шины в интегральных микросхемах (ИМС) с использованием …
ТВ Кабак, ТВ Петлицкая - 2021 - libeldoc.bsuir.by
АНАЛИЗ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КОНТАКТОВ КРЕМНИЕВОЙ ПОДЛОЖКИ И АЛ
Page 1 АНАЛИЗ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КОНТАКТОВ КРЕМНИЕВОЙ ПОДЛОЖКИ …
Page 1 АНАЛИЗ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КОНТАКТОВ КРЕМНИЕВОЙ ПОДЛОЖКИ …
Ионно-лучевые технологии как средство анализа топологии интегральной микросхемы (ИМС)
ТВ Кабак - 2021 - libeldoc.bsuir.by
Современные ионно-лучевые технологии предоставляют возможность решения не
только задач избирательного препарирования ИМС, но и дают доступ к ранее …
только задач избирательного препарирования ИМС, но и дают доступ к ранее …
[PDF][PDF] Исследование возможности аппроксимации экспериментальных данных для процесса ионной имплантации бора в кремнии
ДВ Салеев - Фундаментальные исследования, 2014 - s.fundamental-research.ru
Формирование математической модели каждой операции технологического процесса
производства интегральных схем является ключевым этапом разработки подсистемы …
производства интегральных схем является ключевым этапом разработки подсистемы …
[PDF][PDF] Оценка финансового состояния ООО «Индор Медиа» и пути его улучшения
ЕА Забудский - 2020 - rep.bntu.by
Untitled Page 1 Page 2 РЕФЕРАТ Дипломный проект: 103 с., 16 рис., 36 табл., 34
источника, 1 прил. ЛИКВИДНОСТЬ, ОБОРАЧИВАЕМОСТЬ АКТИВОВ, ПРИБЫЛЬ …
источника, 1 прил. ЛИКВИДНОСТЬ, ОБОРАЧИВАЕМОСТЬ АКТИВОВ, ПРИБЫЛЬ …