Features of temperature dependence of contact resistivity in ohmic contacts on lapped n-Si

AV Sachenko, AE Belyaev, NS Boltovets… - Journal of applied …, 2012 - pubs.aip.org
The temperature dependence of contact resistivity ρ c in lapped silicon specimens with
donor concentrations of 5× 10 16, 3× 10 17, and 8× 10 17 cm− 3 was studied …

Physical mechanisms providing formation of ohmic contacts metal-semiconductor

AV Sachenko, RV Konakova… - … , quantum electronics & …, 2018 - irbis-nbuv.gov.ua
This review is devoted to presentation and analysis of physical mechanisms of ohmic
contacts formation in semiconductors. In addition to the classical mechanisms known for …

[PDF][PDF] Термоэлектрический метод контроля теплофизических параметров теплопроводящей пасты (термоинтерфейса): диссертация на соискание ученой …

ИМ Васильев - 2022 - earchive.tpu.ru
В современной технике повсеместно применяется теплопроводящая паста,
получившая еще одно название–термоинтерфейс, задача которого улучшить качество …

[PDF][PDF] Интегральная схема СВЧ-модулятора сантиметрового диапазона на слоях поликристаллической алмазной пленки

ВВ Басанец, НС Болтовец, АВ Гуцул… - Журнал технической …, 2013 - x-ray.net.ua
Представлены экспериментальные результаты измерений параметров
микрополосковой коммутирующей сверхвысокочастотной интегральной схемы в …

Integrated microwave (centimeter-range) modulator on polycrystalline diamond layers

VV Basanets, NS Boltovets, AV Gutsul, AV Zorenko… - Technical Physics, 2013 - Springer
Measuring data for the parameters of a microstrip switching superhigh-frequency integrated
circuit on a 100-μm-thick polycrystalline diamond film are reported. Measurements are taken …

Термоэлектрический метод контроля качества нанесения теплопроводящего компаунда

ИМ Васильев, АА Дементьев, АА Солдатов… - Дефектоскопия, 2020 - elibrary.ru
Приведены результаты экспериментов по определению зависимости термоэдс от
качества нанесения теплопроводящего компаунда. Показано, что данные о качестве …

[HTML][HTML] АВТОМАТИЗИРОВАННАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ТЕПЛОВОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИМ МЕТОДОМ

ИМ Васильев, АИ Солдатов… - … системы 4-й …, 2020 - books.google.com
Потери, генерируемые полупроводниковыми кристаллами в процессе работы,
приводят к повышению их температуры, снижению производительности и надежности …

Theoretical and experimental modelling the specific resistance of vertical ohmic contacts Au–Ti–Pd–n+-n-n+-Si in IMPATT diodes

PM Romanets, AE Belyaev, AV Sachenko… - Semiconductor …, 2016 - irbis-nbuv.gov.ua
The method of electrophysical diagnostic of n+-n-n+ structures at the etching stage of
manufacturing process of power IMPATT diodes has been proposed. A numerical method …

A method for calculating the thermal characteristics of silicon TVS-diodes in the pulse mode

FI Grigoriev, AB Aleksandrova, VA Gafurov - Russian Microelectronics, 2016 - Springer
The dependence of the thermal characteristics of TVS-diodes during the passage of the
pulse overload has been studied. The time dependences of the pulse voltage limitation and …

Analysis of the induced photothermal conduction in the Mn4Si7-Si-Mn4Si7 and Mn4Si7-Si-M heterojunctions

TS Kamilov, VV Klechkovskaya, BZ Sharipov… - Technical Physics, 2013 - Springer
The kinetics of photocurrent is studied in the presence of the intrinsic irradiation at h ν≥ 1.12
eV in the Mn 4 Si 7-Si-Mn 4 Si 7 and Mn 4 Si 7-Si-M heterojunctions at relatively high …