Variation-aware approaches with power improvement in digital circuits

M Mirzaei, M Mosaffa, S Mohammadi - Integration, 2015 - Elsevier
In submicron technology, during the fabrication process factors like lithography and lens
defect can change some of the physical parameters of transistors and interconnects. This …

Analysis and Modeling of ASIC Area at Early-Stage Design for Standard Cell Library Selection

YW Lim, SJ Hashim, NA Kamsani… - … on Circuits and …, 2019 - ieeexplore.ieee.org
Area-delay curve is an effective technique to compare and select the appropriate library at
different target delay constraint. However, generating area-delay curve requires time …

[PDF][PDF] کاهش اثرات تغییرپذیری پارامترها در شبکه روی تراشه با استفاده از روش آگاه از تغییرپذیری

میرزایی محمد, مصفا مهدی, محمدی سیامک - 2014‎ - sid.ir
ز ش آﮔﺎه از ﺎده از روش ﻪ ﺑﺎ اﺳﺘﻔﺎ روي ﺗﺮاﺷﻪ ر ﺷﺒﻜﻪ ر راﻣﺘﺮﻫﺎ Page 1 ز يﺎـﻫ ﺪـﻨ 7 ﻢ . ﺎـﺑ ﻚـﻳ ،ناﻮ . رد يرﻮ يﺮﻳ يﺮﻳ
ﺪﻧﻮ . ﻪـﻛ ﺪـﻫ . عﻮـ يﺮﻳ . رد ﺐـﻟ ﻚـ يﺮﻳ ﺐـﻟ زا هﺎﮔآ ش ﻫﺮﺘﻣارﺎﭘ ،ﺖﺧﺎـﺳ ﺪـ ﻨﻳاﺮﻓ يﺮﻳﺬـﭘﺮﻴﻴﻐﺗ ت ﻢﻳدﻮﻤﻧ ﻪﻓﺎﺿا ﺮﺘﺴﺑ ﻪ ﻳ يور …