R Lok, S Kaya, H Karacali, E Yilmaz - Radiation Physics and Chemistry, 2017 - Elsevier
In this work, the initial interface trap density (N it) to examine device compability for microelectronics and then the Co-60 gamma irradiation responses of Al/HfSiO 4/p-Si/Al …
The purpose of this study is to investigate the Gadolinium Oxide (Gd 2 O 3) as a gate dielectric/sensitive region in MOS based radiation sensors and to provide a detailed …
A Kahraman, E Yılmaz - Sakarya University Journal of Science, 2017 - dergipark.org.tr
The aim of the present study is to determine the pre-irradiation threshold voltages of the RadFET dosimeters with gate oxide composed of high-k dielectrics and compare the results …
Abstract Using FLUKA and MCNP Monte Carlo nuclear particle transport codes, support for radiation shielding design and assessing damage to aerospace components and systems …
A Kahraman, E Yılmaz - Uludağ Üniversitesi Mühendislik Fakültesi …, 2017 - dergipark.org.tr
Bu çalışmada, RadFET'lerin kapı oksit tabakasına implante edilmiş B+ iyonlarının Vth üzerine etkisi, Silvaco TCAD benzetim programı ile incelenmiştir. 300 nm ve 400 nm …
Bu çalışmada, Yb 2 O 3 ile n-Si arasına konulacak SiO2 katmanın arayüzey kalitesine etkisi ve Yb 2 O 3/SiO 2 yığın kapı oksit tabakasının MOS tabanlı radyasyon sensörlerinde duyar …
Bu çalışmada, RadFET'lerin kapı oksit tabakasına implante edilmiş B+ iyonlarının Vth üzerine etkisi, Silvaco TCAD benzetim programı ile incelenmiştir. 300 nm ve 400 nm …
Bu çalışmada, RadFET'lerin kapı oksit tabakasına implante edilmiş B+ iyonlarının Vth üzerine etkisi, Silvaco TCAD benzetim programı ile incelenmiştir. 300 nm ve 400 nm …